對于本質(zhì)安全型設(shè)備，在低溫下，本質(zhì)安全設(shè)備中使用的元件，如安全柵，以及具有動態(tài)本質(zhì)安全元件的限制火花時限電源性能特性會發(fā)生變化。選擇元件時宜考慮這些變化，并宜按照GB/T 3836.4—2021《爆炸性環(huán)境 第4部分：由本質(zhì)安全型“i”保護的設(shè)備》的要求，利用制造商規(guī)定的運行溫度進行評定。該額定值宜考慮影響本質(zhì)安全性能的半導體元件運行的變化，以提供要求的本質(zhì)安全功能。

這種系統(tǒng)中使用的具有動態(tài)本質(zhì)安全元件的電源，其本質(zhì)安全效能取決于使用場所的環(huán)境溫度。在低溫下，本質(zhì)安全電源的動態(tài)半導體元件的靈敏度下降，開關(guān)時間增加。GB/T 3836.4—2021規(guī)定火花點燃試驗應(yīng)在最易點燃條件的電路布置中進行。但是，實際上，試驗通常是在實驗室溫度下進行。

因此，涉及低溫的地方，對具有動態(tài)本質(zhì)安全保護電源的系統(tǒng)，需要在應(yīng)用范圍內(nèi)的溫度下，包括動態(tài)半導體元件的溫度，以及在最高工作溫度時火花試驗裝置連接適宜負載的條件下，測試本質(zhì)安全性能。

在低于-40 ℃的環(huán)境溫度下提供本安保護的半導體元件，可能需要特殊加熱系統(tǒng)。對于在寒冷的海洋氣候下使用的設(shè)備，盡管設(shè)備符合GB/T 3836.4—2021的爬電距離和絕緣材料相比漏電起痕指數(shù)（CTI）規(guī)定，可能需要高于IP54的防護等級，以確保防止氯化物可能在印制電路板表面沉積造成起痕。